Атомно-силов микроскоп
-
атомно-силов afm микроскоп
Марка: NANBEI
Модел: AFM
Атомно-силов микроскоп (AFM), аналитичен инструмент, който може да се използва за изследване на повърхностната структура на твърди материали, включително изолатори.Той изучава повърхностната структура и свойствата на веществото, като открива изключително слабото междуатомно взаимодействие между повърхността на пробата, която ще се тества, и елемент, чувствителен към микросила.
